Emulation von Sensoren für Entwicklung und Test

Im Bereich der Eingebetteten Systeme nehmen die Funktionen und damit auch die Zahl der Steuergeräte bzw. smarten Aktuatoren immer weiter zu. Zusätzlich werden die Steuergeräte mehr und mehr in die Außenwelt eingebunden, also mit ihr verknüpft. Diese Verbindung zur Außenwelt erfolgt dabei über unterschiedlichste Sensoren und Aktoren. Bisher kamen bei den Sensoren Schnittstellen mit analogen - bzw. PWM-Signalen zum Einsatz. Viele Sensoren haben heute digitale Schnittstellen, wie zum Beispiel Serial Peripheral Interface (SPI), Peripheral Sensor Interface 5 (PSI5) oder Single Edge Nibble Transmission (SENT). Viele der durch Sensoren erfassten Werte dienen sicherheitskritischen Funktionen. Dies erfordert eine tief gehende Absicherung der Verarbeitung der Sensordaten sowie der Umsetzung der Fehlererkennungsmechanismen. Dies ist mit Einsatz realer Sensoren nicht vollständig möglich, da diese keine gezielte Einbringung spezifischer Fehler ermöglichen. Daher ist eine Simulation der Sensoren, genauer der Kommunikationsprotokolle der Sensoren, mit der Möglichkeit zum Einbringen spezifischer Fehler notwendig. Diese Simulation muss echtzeitfähig im Bezug auf das Verhalten des Sensors, aber auch in Bezug auf die Fehlerinjektion sein, um Fehlererkennungszeiten testen zu können. Weiterhin ist es nötig die Simulation in verschiedene Testsysteme, wie zum Beispiel Hardware in the Loop-Testsysteme oder Testsysteme am Entwicklerarbeitsplatz, zu integrieren.

Was lernen die Zuhörer in dem Vortrag?

Dieser Beitrag zeigt die Komplexität moderner Sensoren und ihrer digitalen Schnittstellen auf. Es werden dabei die Herausforderungen für die Entwicklung, aber vor allem für den Test dargestellt. Des Weiteren wird aufgezeigt, wie eine Emulation der Sensoren bzw. deren Protokolle in Verbindung mit Testverfahren, wie dem Hardware in the Loop-Test, eine weitreichende Absicherung, auch sicherheitskritischer Funktionen, ermöglicht.

Kristian Trenkel
Kristian Trenkel

Dr.-Ing. Kristian Trenkel studierte ab 2001 an der FH Jena Elektrotechnik/Technische Informatik. Nach erfolgreichem Abschluss des Studiums als...

45 Minuten Vortrag

Fortgeschritten

Zeit

12:15-13:00
04. Juli


Raum

Raum "Paris"


Zielpublikum

Projektleiter, Testmanager, Testingenieure


Themengebiet

Embedded Testing


ID

Do3.4

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